泰克逻辑分析仪推出新选件 简化DDR2 测试

2011-04-18 16:44:15来源: EEWORLD 关键字:TLA6000  DDR2  泰克

    中国北京,2011年4月15日--全球领先的测试、测量和监测仪器提供商--泰克公司日前宣布,推出完整的 DDR2 协议调试和验证解决方案,基于屡获奖项的 TLA6000 系列逻辑分析仪。TLA6000 系列新选件包含了嵌入式工程师——即使并非DDR2专家——用来验证和调试设计中存储子系统性能所需的各项工具。

    DDR2 存储系统广泛用于当前大量嵌入式设计——通常用作微处理器总线或 FPGA 中的模块。DDR2 协议的复杂性以及大量命令/数据/地址信号,既难以直观地了解总线工作情况,也很难隔离潜在的问题。此外,设计人员必须保证信号定时和接口符合 JEDEC 标准。TLA6000 系列新增的 DDR2 选件以更为经济的价格提供了更加完整、易用的 DDR2 测试解决方案,满足新兴需求。

    “这些选件可显著提高工程师验证和调试嵌入式设计中 DDR2 的工作效率,同时这些功能集成在我们的中端逻辑分析仪中奖有效帮助降低成本,”,泰克公司逻辑分析仪产品线总监 Dave Farrell 先生表示,“由于内置软件可将捕获的原始数据转换为有意义的 DDR2 总线事务视图,自动发现并报告与协议不相符的情况,因此哪怕用户不是 DDR2 专家,也同样可以取得专家级的调试结果。”

    TLA6000 系列新选件含有用来查看地址、数据和控制信号的一系列工具,包括:
• 内存芯片夹具(Memory chip interposers)便于探测嵌入式 DDR 存储器,不必设计探测接入点。这些内存芯片夹具(Memory chip interposers)配合 TLA6000独特的iCapture 模拟复用器 (Analog Mux),可为逻辑分析仪与示波器提供单一探测解决方案,节省时间并最小化设置的复杂性。 
• 协议解码软件显示所有 DDR2 事务,并具有 DDR2 事件触发功能。
• 采样点分析软件自动完成 TLA6000 正确配置过程,对 DDR2 信号进行精确采样。
• 协议冲突软件发现并报告违背 JEDEC 定义的 DDR2 协议的情况。

    Nexus Technology 公司总裁 Rob Shelsky 表示:“这种 DDR2 解决方案为调试和验证工程师提供快速、精确的分析功能。结合泰克逻辑分析仪深存储、强大的触发和跨总线相关功能,这些新的 TLA6000 选件为工程师调试和验证嵌入式存储器提供了业内最佳工具。”

关键字:TLA6000  DDR2  泰克

编辑:赵思潇 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2011/0418/article_2442.html
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