泰克增强高性能示波器的测试速度和能力

2011-04-15 16:25:34来源: EEWORLD 关键字:泰克  示波器  MIPI联盟  DPO7000C

    中国 北京,2011年4月13日---全球示波器市场的领导厂商---泰克公司日前宣布,为其500 MHz 至 8 GHz高性能示波器系列推出两个新版本系列,帮助嵌入式系统设计工程师加快其设计调试速度。这些新产品包括DPO7000C 系列以及MSO/DPO/DSA70000C 系列的4、6和8 GHz新型号。泰克同时还宣布扩大对MIPI测试的支持,推出新的串行解码解决方案针对MIPI®联盟的CSI-2和DSI规范。 
 
    这些泰克新产品反映了电子产品设计的新现实:工程师的职责范围不断扩大,工程团队可用于产品设计的时间比以前减少了。由于创新速度的加快,他们没有时间来成为所有领域的专家。因此,他们必须更加依赖于测试工具来节省时间,以便他们能够放心地查找和解决复杂的问题。

    “我们今天发布的新示波器系列,为加快嵌入式系统串行总线调试速度提供了业内领先的工具”,泰克中端示波器总经理Roy Siegel表示,“我们继续通过提供业内最佳解决方案——如MIPI串行分析——来迎接最新挑战。另外,我们继续加紧在我们最受欢迎的示波器产品方面的创新,以支持最新架构和提供我们客户需要的综合性工具。”

 

    DPO7000C 系列

    DPO7000C 系列包含适用于许多应用的分析功能,向工程师提供了一种高效率的测试工具。它包括省时的串行分析解决方案,使工程师能够使用针对各调试阶段的强大工具来集中精力解决设计问题——从发现存在问题到予以确定,然后搜索所有长记录并进行分析,以便查找根本原因所在。借助One Touch Jitter Wizard等工具,甚至最复杂的测试任务也可得到简化和自动化。

    该新系列产品现已预装最新的Microsoft Windows 7操作系统,能与数据网络更轻松集成、提供更直观的操作和更快的启动速度。这些产品的另一个特点是其计算平台的速度更快,例如DPOJET 抖动测量速度就比原先快3倍。它们还提供完全LXI Class C支持,因而更易于集成进自动化测试系统。

    DPO7000C提供了业内最全面的串行总线分析,以及强大的解码、触发和搜索功能支持最流行的嵌入式系统总线分析,包括I2C、SPI、RS-232/422/485/UART、USB 2.0、MIPI CSI-2和DSI规范。 

    MSO/DPO/DSA70000C新型号系列

    MSO/DPO/DSA70000C 系列提供对高性能设计中最复杂问题的深层分析和对射频 / 微波、串行数据及半导体检定和验证。这个综合性高性能平台支持针对流行嵌入式系统总线的触发、解码和搜索功能,以及对DDR3、USB 3.0和PCIe 3.0等标准的高速时序分析和一致性测试软件包。

    对于那些需要性能超出DPO7000C 3.5 GHz型号的工程师,MSO/DPO/DSA70000C 系列中的4、6和8 GHz新型号是理想的选择。这些最新产品包含一个速度更快的新计算平台,提供LXI Class C支持并采用Windows 7操作系统。

    对于MSO70000C 系列,新的P6750逻辑探针提供基于最多达16个逻辑通道的高密度DMAXTM信号存取功能。提供增强型调试功能的Advanced Search & Mark(高级搜索与标记)以及DPOJET Essentials工具现在都是所有产品的标准配置。

    扩大对MIPI规范的支持

    MIPI®联盟的规范日益被无线移动设备生产商用作嵌入式控制器、摄像头和显示屏等主要设备组件之间的通信总线的技术标准。这些规范可帮助智能手机生产商缩短产品上市时间和降低器件集成成本,同时实现大量比特率更高的功能。

    通过针对MIPI CSI-2和DSI串行总线的协议解码和搜索功能,泰克现在扩大了对MIPI规范的支持。通过泰克DPO7000C和MSO/DPO/DSA70000C示波器的 MIPI D-PHY 和 MIPI M-PHY 支持,扩大了针对新出现的MIPI联盟测试要求的测试功能。泰克还正在推出用于MIPI D-PHY TX测量的100% 单键一致性测试的TekExpress 自动化工具集。此外泰克还通过TLA7000 系列逻辑分析仪提供了 DigRFv.4 逻辑测试功能。

    “测试对任何规范的采用和推广都是一个重要组成部分”,MIPI联盟董事长Joel Huloux表示,“拥有大量产品和服务的提供商——例如来自泰克的这些产品——可帮助那些希望实施MIPI规范的公司加快产品上市速度。”

关键字:泰克  示波器  MIPI联盟  DPO7000C

编辑:赵思潇 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2011/0415/article_2429.html
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