基于FPGA/MCU的光电式滚转角测量仪

2010-12-13 21:03:35来源: 南京理工大学机械工程学院

  引言

  对于智能化弹药而言,弹丸滚转角是执行弹道修正功能、实现精确制导的重要初始参数,可通过安装于弹体的陀螺仪或者磁探测模块进行测量,但在实验室环境下需要有一个外部基准来验证测量结果的准确性。本文设计基于FPGA/MCU的光电式滚转角测量仪,安装于实验转台上,实时输出滚转角度值,为弹体的滚转角测量提供对照基准,并可与上位机进行通信,将数据传送到主机中进行后续处理。

  系统整体方案

  滚转角测量仪物理架构如图1、2所示。a为滚转体,可沿轴向做360度旋转,在滚转体上某固定位置安装红外发光二极管k,光束方向沿截面径向朝外;b为侧支架,为了减少环境光线的干扰,采用封闭式设计,沿支架周向均匀安装n个光敏接收电路gl-gn,n值视所需测量精度而定;当滚转体旋转到某角度时,延径向发射红外光,侧支架上的光敏三极管对其进行接收,把光信号转换为电压信号,经过处理之后送给主控板,主控板通过判断是哪个光敏三极管接收到了信号来确定滚转角度,滚转体也可能会刚好旋转到两个光敏三极管之间,导致二者同时接收到光信号,此时可对信号进行AD转换,然后通过相应算法对转换值进行处理,从而解算出滚转角。

滚转角测量仪物理架构

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关键字:MCU  FPGA  滚转角测量仪

编辑:小甘 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2010/1213/article_1638.html
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