泛华测控参加NI DAYS 与工程师共享锦囊妙计

2010-11-22 14:59:06来源: EEWORLD


      2010年11月4日,2010年度“NI DAYS全球图形化系统盛会”中国站在上海国际会议中心盛大举行。作为连续11次在中国地区举办的行业技术盛会,今年会议围绕着“创新,让世界更美好”为主题,打造了一场虚拟仪器领域关于工程创新的博览会,展示了图形化系统设计、虚拟仪器和模块化硬件给世界带来的巨大变化。

      北京中科泛华测控技术有限公司(简称:泛华测控)作为NI(美国国家仪器有限公司)多年来的重要合作伙伴,受邀出席了本次盛会。会上,泛华测控结合自身在测试测量领域十几年的总结和经验,为盛会带去了在其多年来在自动化领域的各种实际应用案例,与工程师们共同分享了《构建自动化测试系统中的锦囊妙计》的精彩演讲。

      构建适应现代应用的自动化测试系统一直是泛华测控关注的重点技术,同时也是本次会议关注的焦点问题之一。泛华测控的工程师在本次会上就如何应对现代自动化测试需求多变和可靠性日益严苛、测试效率持续提高的行业要求,结合丰富的应用案例,与现场工程师共同分享了泛华测控基于虚拟仪器技术构建测试系统的经验和成果,为工程师们构建灵活、可靠的自动化测试系统贡献自己的一份力量。与此同时,泛华测控工程师还为现场客户展示了多年来泛华自主研发的汽车传感器测试系统、VAS-HJ专业振动分析仪等系统产品,受到了新老客户的广泛关注。

      多年来,泛华测控一直以坚持成为“值得信赖的测控技术专家”为目标,以“柔性测试技术”为行业应用的技术指导,以虚拟仪器技术为核心,不仅关注系统级产品的整体性能和功能,还在产品的精确性、可靠性、灵活性、扩展性、适应性等方面不断追求,逐步形成以模块化、系统化、专利化的开发思路,在最大程度上满足各行业用户的测试需求。

      目前,泛华测控的产品及系统已广泛应用于汽车电子、航天军工、高校、工业电气化等多种行业。

关键字:泛华测控  NI

编辑:editor 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2010/1122/article_1598.html
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