基于AVR的激光测距机综合性能检测设备设计

2010-11-18 21:29:10来源: 维库开发网

  由于传统的激光测距性能检测必须到室外对目标靶进行检测,并且受到天气条件的限制,使得技术普查和日常维护受到很大的制约。为了克服以上问题,笔者设计了一种基于AVR单片机的激光测距机综合性能检测设备,借助该设备,对不同型号的激光测距机完成测距精度、测距能力、测距逻辑、单脉冲能量等的数字化检测,大大提高了检测效率和测试精度。

  1 设计方案

  本方案的基本思想基于模拟激光测距机的工作原理和激光传输过程,激光测距机在工作时,首先从其发射通道发射一激光脉冲,经过大气传输照射在被测物体上,然后漫反射,激光测距机的接收通道接收到漫反射的激光回波,激光测距机内部安装有激光脉冲的发射、接收和计时模块,根据激光脉冲从发射到返回的时间可以计算出其走过的距离,从而得到被测目标和激光测距机之间的距离。而本方案的综合性能检测设备与激光测距机的接收、发射通道相对应,分别提供发射、接收通道,检测设备内部也相应设置计时模块,实现相对应一定距离上的目标回波时间、能量的双重模拟,即可由检测设备代替目标模拟回波脉冲,实现激光测距机测距性能的自动化、数字化检测,综合性能检测设备总体构成如图1所示。

  2 系统结构框图

  综合性能检测设备电路原理框图如图2所示。

  主要包括微处理器系统、面板显示及按键控制电路、精密延时信号发生器、窄脉冲功率驱动及发光强度控制电路、精密测时器、激光脉冲同步器、激光脉冲能量探测器及前置放大器、高速数据采集转换器及打印机控制电路等。

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关键字:激光测距  检测设备

编辑:小甘 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2010/1118/article_1590.html
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