泛华测控将第3次亮相中国成都电子展

2010-08-30 16:47:14来源: EEWORLD


      9月7-9日,北京中科泛华测控技术有限公司(简称:泛华测控)特邀您一起参加2010中国(成都)电子展暨第14届国际电子测试与测量专业研讨会。届时,展会将在成都世纪城新国际会展中心隆重举行。此次会议的主题是:面向国防军工与工业应用的电子测试技术解决方案。

      今年,泛华测控将以“值得您信赖的测控技术专家”为主题,向大家展示泛华近年来在军工和汽车电子领域的相关产品及解决方案。系统级产品是此次展出的主要对象,涉及汽车电子方面的汽车车窗ECU系统测试、汽车仪表盘系统测试,军工方面的航空电子测试系统、旋转机械测试系统都将一一亮相展会。

      同时,泛华工程师还将在会议期间为您带来题为“正确理解电子测量仪器的技术指标”的技术演讲。泛华测控欢迎您前来听讲,并与工程师一起探讨电子测量仪器领域的有关问题。

      作为“柔性测试”技术的提出者,泛华测控此次展出的多款产品均是基于‘“柔性测试”技术理念开发研制的。此外,这也是泛华测控第3次参加中国成都电子展。

      2010年9月7-9日,泛华测控欢迎各界新老朋友前来展台指导洽谈,共同推动中国测控行业的发展。我们的展位号是:K01

关键字:泛华测控  中国电子展

编辑:于丽娜 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2010/0830/article_1436.html
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