泛华测控赴美参展 助力NI Week

2010-08-04 16:21:53来源: EEWORLD


      NI Week将于美国当地时间8月3日在德州的奥斯汀市盛大开幕。预计全球将有超过3000余名工程师、科学家及相关学术人员参会。作为NI公司在中国的多年合作伙伴——北京中科泛华测控技术有限公司(简称:泛华测控)将参加此次盛会,并将展示其基于NI虚拟仪器技术应用的部分解决方案及产品,展品主要为LECT-1101、PXI一体化机箱和VAS-HJ专用振动测试分析仪。

      作为泛华测控今年的主推产品,LECT(Laboratory Education courseware experT)-1101是一套应用于高校实验教学的即插即用的课件系统。它是基于NI ELVIS开发平台,结合Labview程序,并根据中国高校自控专业最典型的10个实验设计开发而成。

      PXI一体化机箱则是一款应用于外场实验设备的系统级产品。小机箱便于携带,配合相应功能PXI板卡,能应用于各种现场数据采集、分析及实验研究。

      而VAS-HJ专用振动测试分析仪是一款对振动信号的波形分析及参数测试监控的智能检测和测试系统,同时,其还具有可为传感器提供恒流激励等多种功能。

      在今后三天的会议中,泛华测控还将与来自世界各地的专家学者、NI用户、代理商、系统联盟商就虚拟仪器技术进行深入的探讨与交流。

 

关键字:泛华测控  NI  Week

编辑:于丽娜 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2010/0804/article_1384.html
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