DDS信号源在扫频测试中的具体应用

2010-07-28 22:44:37来源: 普源精电

  电子设计中经常碰到的问题是对待测电路(DUT)传输特性的测试,这里所说的传输特性包括增益和衰减、幅频特性、相位特性和时延特性等,而最常见的就是DUT的幅频特性。

  最初,对于DUT的幅频特性的测试是在固定频率点上逐点进行。这种测试方法繁琐、费时,且不直观,有时还会得出片面的结果。例如,测量点之间的谐振现象和网络特性的突变点常常被漏掉。

  DDS(DirectDigitalSynthesis)技术是1971年3月由美国学者J.TIerncy,C.M.Rader和B.Gold提出,这是一种从相位概念出发直接合成所需要波形的全数字频率合成技术,原理框图如下:

图表1DDS技术原理框图

图表1DDS技术原理框图

  DDS技术的出现使得我们对于幅频特性的测试变得异常简单。我们只需要按照某种规律不断的配置“频率码K”,就能够得到一个频率随时间按照此规律在一定频率范围内扫动的信号,如此即可对DUT进行快速、定性或定量的动态测试。因此,对DUT的调整、校准及故障排除提供了极大的便利。
北京普源精电(RIGOL)最新推出的DG5000系列函数/任意波形发生器采用了DDS直接数字合成技术,可生成稳定、精确、纯净和低失真的输出信号。本文仅以DG5000为例来详细说明DDS信号源在扫频测试中的具体应用。

1.DG5000提供1uHz~250MHz的扫频范围;
2.扫频类型支持“线性扫频”、“对数扫频”和“步进扫频”;
3.扫频时间1ms~300s,同时支持“返回时间”、“起始保持”和“终止保持”的设置;
4.触发方式包括“自动触发”、“外部触发”和“手动触发”;
5.支持“标记频率”的设置,可以轻易表示出扫频信号任意点的频率值。

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关键字:DDS信号源  扫频测试  DUT

编辑:小甘 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2010/0728/article_1369.html
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