8月问世 日置HIOKI首款阻抗分析仪-IM3570

2010-07-21 11:36:30来源: EEWORLD 关键字:日置  HIOKI

     

  概要

  阻抗分析仪IM3570是实现了测量频率4Hz~5MHz的日置首款高精度·高速阻抗分析仪。根据客户的用途,可以与原来本公司的LCR产品一样选择将测量值用数值显示模式来显示频率/电平特性的测量图表。

  定位

  IM3570是类似本公司以往产品LCR测试仪3532-50,并较其功能更为强大的产品。特别加强了频率的扫描测量、高速测量、低ESR测量、DCR的连续测量和测量稳定性,是HIOKI首款能在扫频测量时显示图表的产品。此外,这款产品的测试速度操作性、价格都非常符合现今市场需求,极具行业竞争性。

  特点

  关于测量精度,特别是低阻抗的操作反复精度比起以往产品都提高了一位,所以比较适合测量多mΩ、低ESR功能性高分子电容。

  另外,测量时间最快为0.5ms(100kHz,FAST,显示OFF时),所以能够高速测量共振频率、发声零件、振动传感器等,适合用于生产压电元件的生产线。

  最大的优点是,与以往产品相比可高速的切换测量条件后进行测量。因此,以往的装备多台测试仪的系统现在用一台IM3570就能搞定。比如,测量线圈,DCR测量(电阻计)和1MHz的L-Q值测量(LCR)都可以用IM3570测量。

  主要应用

  压电元件(发声零件、滤波器)、高分子电容的生产线上的检查中,另外频率扫描测量也可用于电池材料评估等多种用途中。

关键字:日置  HIOKI

编辑:冀凯 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2010/0721/article_1353.html
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