日置即将推出最新IM3570阻抗分析仪

2010-06-21 13:49:41来源: EEWORLD

 

一台仪器就可以实现不同测量条件的高速检测要求
      即将发售的阻抗分析仪IM3570是测量频率4Hz~5MHz,测试电平5mV~5V的LCR电桥与阻抗分析仪合二为一的仪器。因为对应不同测量条件都能高速连续测量,所以在需要使用众多仪器检查的生产线上,仅IM3570一台便可实现。

      压电元件的共振特性的测量
      通过频率扫频测量共振频率和当时的阻抗值,利用比较功能判别是否合格。另外,通过连续测量的功能,1KHz的 C值测量(LCR电桥)和频率扫频测量都能在这一台仪器上实现。

      功能高分子电容等的C-D值和低ESR测量
      能够连续测量功能性高分子电容的C-D值以及低ESR(100kHz)
      与之前的产品(3522-50,3532-50)相比,低阻抗测量时的绝对精度和反复精度都提升了1位。

      电感(线圈、变压器)的DCR和L-Q测量
      连续测量L-Q(1kHz,CC1mA)和DCR,能在同一画面上显示数值。
      通过扫频测量,能够用图表来显示频率特性和电平特性。

阻抗分析仪IM3570的介绍

推荐用于生产线中的特点和功能
1. 按照不同测量条件进行连续测量
根据测量对象,1台仪器可连续测量必须的多种测量条件。例如:可进行DCR(直流电阻)和L-Q的连续测量、以及C-D(120Hz)和ESR(100kHz)的连续测量。

2. 通过高速测量加快检查速度
缩短测量时间、实现最快2ms(1kHz)、1ms(100kHz)。和日置以往产品(代表值5ms)相比,大幅提高了速度,从而有利于增加检查数量。

3. 和以往产品相比,反复精度提高了1位
和以往产品相比,将低阻抗测量时、高频测量时的反复精度提高了1位。在提高了测量值的可信度的同时,可缩小设置生产线的判断标准的幅度。

3. 具备接触检查功能
利用4端子测量(仅低阻抗高精度模式时)、2端子测量的接触检查功能,可防止测量电极为接触被测物的情况下测量。

4. 测量线可延长至4m
利用4端子的结构减小测量线的影响,以测量线长0/1/2/4m来保证精度。便于自动机的接线。

5. 可在内部发生DC偏压
仅主机可外加并测量最大2.5V的DC偏压。可安心测量钽电容等有极性的电容。

6. DC~5MHz可使用的4端子探头
4端子探头L2000(选件)采用有利于特性阻抗50Ω和提高测量精度的4端子构造,是最适合于IM3570的探头。

推荐用于研发的特点和功能
1. 频率扫频测量和电平扫频测量
      可对频率特性(4Hz~5MHz)和电平特性进行扫描和测量。轻松把握特性。

2. 可广范围的改变测量条件
      测量频率4Hz~5MHz(5位分辨率)
      测量电平5mVrms~5Vrms(1mVrms分辨率)

3. 触摸屏设计,轻松操作
      延续以往产品中操作简单的触摸屏设计。采用了彩色液晶面板,能够清晰的显示数据,还具备优良的操作性,从而提高作业人员的工作效率。

4. U盘
      可将测量结果和设定保存至前端面板连接的U盘中。

5. PC控制和PC软件
      标配RS-232C、GP-IB、USB、LAN。

 

关键字:日置  IM3570  阻抗分析仪

编辑:于丽娜 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2010/0621/article_1287.html
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