NI推出用于嵌入式测试的PXI/CompactPCI背板

2010-05-25 17:31:55来源: EEWORLD 关键字:NI  嵌入式测试  PXI  CompactPCI  背板


      美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)推出了独立的PXI/CompactPCI和PXI Express机箱背板产品,用于从航空/军工到工业嵌入式控制领域的多种OEM应用。工程师和科学家可以利用PXI/CompactPCI背板创建坚固的定制应用,以满足其特殊的外形或环境要求。

      十多个最新推出的3U和6U的PXI/CompactPCI单板背板提供4到18个插槽,可与PXI、PXI Express、CompactPCI和CompactPCI Express模块一起工作。工程师可自行设计支架和外壳,同时在系统中集成1500多种现有PXI模块——从数据采集到基于FPGA的I/O模块、到诸如信号发生器和RF信号分析仪等高端仪器、再到包括串口、MIL-STD-1553、IEEE 1588、PROFIBUS和 DeviceNet在内的一系列接口模块。他们还可以使用NI LabVIEW图形化系统设计平台进行设计、原型验证和系统发布,从而显著提高效率,缩短产品上市时间。

      “作为OEM厂商,我们使用新款NI PXI/CompactPCI单板背板来创建可自定义、便携且具有高性能的军用级别计算机平台。系统集成商在这些平台上使用NI模块和控制器,可以发布测试仪器系统,”美国Logic仪器有限公司业务发展部门副总裁Don McCook说,“NI在高质量硬件方面一直具有很好的声誉,现在OEM厂商可将这种可靠性利用到我们自己的产品中。”

      读者可访问www.ni.com/china/embedded,点击“浏览产品”,选择“板卡级CompactPCI/PXI”,了解更多NI嵌入式设计解决方案。

     

关键字:NI  嵌入式测试  PXI  CompactPCI  背板

编辑:于丽娜 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2010/0525/article_1237.html
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