泰克将在NAB上发布具3G-SDI更新的波形监测仪系列

2010-04-12 16:40:47来源: EEWORLD


      泰克公司将利用这次会议展出最近发布的WFM8200和WFM8300以及新型WVR8200和WVR8300波形监测仪。这些测试仪器能够提供高质量、实时的自动3G-SDI眼图显示和抖动测量功能,从而帮助广播电视业主和网络运营商方便地监视和诊断信号中的问题。新型WVR监测仪具有与对应WFM波形监测仪类似的功能,专为使用外接显示器设计,并提供增强的远程监视和控制功能。

      NAB展会今年的一个重点议题是HD电视的发展如何带动内容创建和内容传播中的更高分辨率的视频格式。为了提供高分辨率的视频格式,广播电视业主采用3Gb/s单链路SDI传输(A级或B级)以转向1080p(50Hz或59.94Hz)格式。不过,由于3G-SDI的传输比特率太高,他们面临着新的物理层信号质量测试和测量的挑战,从而促使了对3G-SDI高性能仪器的强烈需求。为此,泰克公司将一如既往地支持3G-SDI眼图测量并提供相应产品,以满足来自行业的迫切需求。

                

      “没有比NAB更好的机会来展出泰克公司的业内领先的基带监视器系列产品了,在会议期间,我们在展现产品优异性能的同时还提供产品报价,以充分满足客户的各种应用的需求,”泰克公司基带视频产品主管Ian Valentine说,“在提供业内领先的3G-SDI功能的同时,我们还将对泰克公司的高性能波形监测仪进行升级,我们将持续改善和更新整个家族系列产品。”

提供业内领先的3G-SDI支持
     
      WVR8200和WVR8300是专门为帮助广播电视行业的工程技术人员更加省时和省力地完成设备调试而设计的,它们能够更加有效地检测系统质量的劣化,在演变为质量问题之前避免广告收入的降低和用户数量的减少。WVR8200和WVR8300具有业内最完善的物理层测量功能,包括自动3G-SDI信号的眼图参数测量和抖动测量,以及泰克公司的抖动波形显示和电缆长度测量。此外,它们提供的告警信息可以帮助用户识别和诊断视音频内容的质量问题以及场消隐期间的附属数据(VANC)问题。

      在这些新型的波形监测仪中,还整合了后期制作进行彩色校正和内容编辑所必需的泰克公司专利显示系列工具。在这些工具中,亮度合格矢量(LQV™)专利显示使用户能够有选择性地确定矢量显示中的亮度幅度范围,以便在矢量显示中按照亮度幅度来区分彩色分量。这样,美工编辑人员就可以在多个LQV显示中按照阴影(shadows)、中间调(mid tones)和亮光(highlights)来识别彩色分量。另一专利显示工具矛头显示,为彩色分级提供了一种新型工具,美工编辑人员就可以在亮度(lightness)、明度(value)和饱和度空间里观察视频内容,以精确地进行彩色调整,使被调整内容的艺术效果更加鲜明、更加生动和逼真,同事又保持了色域的符合性,以防止在后续的工作流程中造成该内容彩色保真度的丢失和失真。

      作为泰克公司不断努力保障原有客户利益,并使他们能够享受最新技术特性和测量功能策略的一部分,我们高兴地也为下列产品提供了增强的功能——WFM5000便携式波形监测仪和WVR5000(半机架宽)监测仪,可免费升级获得新型的四分屏显示,以使用户就更加灵活地为某些特定应用自定义测量显示。此外,对于业内的主流产品即WFM6000/7000和WVR6000/7000系列,新发布的固件增加了音频响度监视和测量功能,这样,这些用户就可以按照最新版的ITU-R BS.1770-1/1771规范以及新的ATSC A/85建议实践(参见相关新闻稿)进行操作。

关于泰克公司波形监测仪

      泰克公司波形监测仪具有优异的视频监测和分析功能,可以满足内容创建、内容分发、新产品的研究和开发以及生产制造应用的需求。这些产品能够帮助视频内容制作商验证内容质量并进行精密的内容调整。在视频分配系统中,利用泰克公司的监测仪产品,可以帮助操作人员验证内容质量,增强系统可靠性,同时帮助工程技术人员检验、安装和维护视频系统。从事产品设计和生产的工程技术人员在开发新型视频设备的过程中,使用泰克公司的波形监测仪能够帮助他们查找设计中的错误,进行功能验证以及生产测试。

      泰克公司的波形监测仪还提供了最完善的音频监测和音频显示功能,涵盖从模拟音频到杜比E数字音频,包括按照SMPTE 2020进行VANC杜比元数据监视、杜比E保护带监视,以及按照ITU-R BS.1770-1/1771规范进行音频响度监测。

上市时间

      WVR8200和WVR8300可以在2010年6月开始订购。

关键字:泰克  NAB  3G-SDI  波形监测仪

编辑:于丽娜 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2010/0412/article_1150.html
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