泛华测控启动数据采集巡回研讨会

2010-03-02 16:08:48来源: EEWORLD

    由北京中科泛华测控技术有限公司(简称“泛华测控”)DAQ事业部举办的“2010数据采集全国巡回研讨会”即将全面启动。

    本次研讨会将以快速搭建高效精准的数据采集系统为核心,以X系列和CompactDAQ数据采集革新技术为切入点,深度剖析NI公司数据采集产品从入门到高级的具体行业应用。

    X系列数采卡凭借高处理能力的PCI Express总线、NI-STC3定时和同步技术、多核获得优化的驱动与应用软件,将性能提升至新高度;CompactDAQ将用于USB的NI信号流技术与真正的即插即用软件体验相结合,在精小便携、简单易用、低价位的系统中实现快速精确的测量应用。在本次研讨会中,泛华测控将就如何利用这些模块,快速建立一个便捷、易用、安全、可靠、稳定而精确的测试测量系统,与各位参会工程师进行深入探讨,并分享泛华测控历年来在多领域的成功案例。

    2009年,DAQ事业部全国巡回研讨会在全国9大城市成功举办,有近千名测试测量工程师和国家重点工程项目负责人参与其中。今年,研讨会将途经无锡、北京、厦门、上海、苏州、天津、杭州、常州、西安、合肥等地,辐射全国,贯穿全年,其覆盖面之广、影响之深远,是关注数据采集服务的各类人群不可忽略的交流平台。

关键字:泛华测控  DAQ事业部  数据采集  巡回研讨会

编辑:Frank 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2010/0302/article_1067.html
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