泰克解决方案助NEC电子获得首项USB 3.0认证

2010-01-26 21:31:56来源: EEWORLD

  泰克公司日前宣布,其SuperSpeed USB解决方案为NEC电子符合USB 3.0标准的主机提供信号质量监测,该主机是世界首款获得USB设计者论坛USB 3.0认证的产品。

  作为设计和生产集成电路的全球领导企业,NEC电子选择与泰克合作,验证其新的硅元件以满足新兴的SuperSpeed USB标准(USB3.0)要求。USB技术已经迅速被公认为连接电脑及外设的行业标准,与其它先进的高速接口如PCI Express 2.0和SATA Gen 3等相比,USB 3.0的性能可以支持高达5Gbps的数据速率,如此高的性能为测试测量带来了更复杂的挑战。为解决这些挑战,必须使用高性能、高灵活度的测量设备,以及能够加快和简化设计、测量和分析过程的工具。借助泰克USB 3.0测试解决方案,NEC电子这类企业的工程师们可以对USB设备进行检定、调试和一致性测试,自动实现余量和一致性测试。对关键的USB 3.0接收机余量测试,泰克AWG7122B任意波形发生器则可提供无可比拟的信号生成灵活度,可以帮助客户更快地把符合USB 3.0标准的产品推向市场。

  泰克公司技术解决方案部市场经理Dave Slack表示:“泰克一直与NEC电子保持密切合作,共同验证、测试和调试SuperSpeed USB。今天,我们非常荣幸能为NEC电子的产品开发做出贡献,从而使其在业内率先获得USB 3.0认证。”

  泰克USB 3.0解决方案

  泰克SuperSpeed USB一致性测试解决方案基于一整套可提供优异的测量性能,满足高速串行协议需求的仪器,包括实时和采样示波器、任意波形发生器等。例如,DSA71254B实时示波器提供了高带宽和低噪声环境,可准确地捕获和分析快速串行信号时钟速率。对一致性测试中的眼图分析和余量测试,匹配的示波器采集系统变得至关重要。与其类似的是,AWG7122B任意波形发生器提供了复杂的波形,可以模拟传输路径的劣化效应,支持接收机测试。这些硬件工具与专业应用软件配合使用,如DPOJET抖动和眼图分析工具、SerialXpress高级抖动生成工具和TekExpress USB 3.0自动一致性测试软件等,为工程师检验和调试设计提供了所需的工具。

关键字:泰克  NEC电子  USB3.0  认证  测试  SuperSpeed

编辑:小甘 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2010/0126/article_1031.html
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