泰克解决方案助NEC电子获得首项USB 3.0认证

2010-01-26 21:31:56来源: EEWORLD 关键字:泰克  NEC电子  USB3.0  认证  测试  SuperSpeed

  泰克公司日前宣布,其SuperSpeed USB解决方案为NEC电子符合USB 3.0标准的主机提供信号质量监测,该主机是世界首款获得USB设计者论坛USB 3.0认证的产品。

  作为设计和生产集成电路的全球领导企业,NEC电子选择与泰克合作,验证其新的硅元件以满足新兴的SuperSpeed USB标准(USB3.0)要求。USB技术已经迅速被公认为连接电脑及外设的行业标准,与其它先进的高速接口如PCI Express 2.0和SATA Gen 3等相比,USB 3.0的性能可以支持高达5Gbps的数据速率,如此高的性能为测试测量带来了更复杂的挑战。为解决这些挑战,必须使用高性能、高灵活度的测量设备,以及能够加快和简化设计、测量和分析过程的工具。借助泰克USB 3.0测试解决方案,NEC电子这类企业的工程师们可以对USB设备进行检定、调试和一致性测试,自动实现余量和一致性测试。对关键的USB 3.0接收机余量测试,泰克AWG7122B任意波形发生器则可提供无可比拟的信号生成灵活度,可以帮助客户更快地把符合USB 3.0标准的产品推向市场。

  泰克公司技术解决方案部市场经理Dave Slack表示:“泰克一直与NEC电子保持密切合作,共同验证、测试和调试SuperSpeed USB。今天,我们非常荣幸能为NEC电子的产品开发做出贡献,从而使其在业内率先获得USB 3.0认证。”

  泰克USB 3.0解决方案

  泰克SuperSpeed USB一致性测试解决方案基于一整套可提供优异的测量性能,满足高速串行协议需求的仪器,包括实时和采样示波器、任意波形发生器等。例如,DSA71254B实时示波器提供了高带宽和低噪声环境,可准确地捕获和分析快速串行信号时钟速率。对一致性测试中的眼图分析和余量测试,匹配的示波器采集系统变得至关重要。与其类似的是,AWG7122B任意波形发生器提供了复杂的波形,可以模拟传输路径的劣化效应,支持接收机测试。这些硬件工具与专业应用软件配合使用,如DPOJET抖动和眼图分析工具、SerialXpress高级抖动生成工具和TekExpress USB 3.0自动一致性测试软件等,为工程师检验和调试设计提供了所需的工具。

关键字:泰克  NEC电子  USB3.0  认证  测试  SuperSpeed

编辑:小甘 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2010/0126/article_1031.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。

上一篇:针对PCI Express Gen2分析的Mini Card插头
下一篇:用于PCIe 3.0协议分析仪的仿真设计验证工具

关注eeworld公众号 快捷获取更多信息
关注eeworld公众号
快捷获取更多信息
关注eeworld服务号 享受更多官方福利
关注eeworld服务号
享受更多官方福利
推荐阅读
全部
泰克
NEC电子
USB3.0
认证
测试
SuperSpeed

小广播

独家专题更多

TI车载信息娱乐系统的音视频解决方案
TI车载信息娱乐系统的音视频解决方案
汇总了TI汽车信息娱乐系统方案、优质音频解决方案、汽车娱乐系统和仪表盘参考设计相关的文档、视频等资源
迎接创新的黄金时代 无创想,不奇迹
迎接创新的黄金时代 无创想,不奇迹
​TE工程师帮助将不可能变成可能,通过技术突破,使世界更加清洁、安全和美好。
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2017 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved