周密设计,智能角位移传感器测试系统上市

2010-01-26 16:15:43来源: EEWORLD


      日前,北京中科泛华测控技术有限公司(以下简称“泛华测控”)研发设计了传感器测试系列的又一新品——智能角位移传感器测试系统。该系统是泛华测控继“智能直线位移传感器标定与测试平台”后在智能位移传感器领域的又一力作。

                            

      智能角位移传感器测试系统主要用于对磁电式弧形或圆形传感器的标定和功能测试,采用测试台、机柜分离的设计,可与泛华早期推出的“智能直线位移传感器标定与功能测试平台”共用除测试台外的其他设备,满足了用户对设备高复用性的要求。同时,该系统以“柔性测试”技术为核心理念,在温度控制、机械结构设计和运动机构控制与测试精度方面均达到了高水准要求,充分体现了系统的精确性、可靠性和灵活性等特点。

                            

      该系统沿袭同系列产品的优势,采用高温绝缘设计,利用特制耐高温箱体设计来达到测试环境的恒温需求,测试箱内的密闭温度可根据被测件的实际需求来控制在25—125℃之间任意一点,温度控制精度可达+/-0.1℃,角度的控制精度高达+/-0.001度,角度的测量精度高达+/-0.0001度,满足了高精确的测试环境需求;此外,该系统只需更换夹具即可实现半径在10mm—200mm之间任意规格的磁电式弧形或圆形传感器的测试,拆卸过程简易快捷,充分满足了用户对系统的灵活性需求。

关键字:智能  角位移  传感器  测试系统

编辑:于丽娜 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2010/0126/article_1029.html
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