论TD-LTE系统组网测试中下行流量的测试 (4)

2010-01-15 21:57:51   来源:爱立信(中国)通信有限公司   

关键字:TD-LTE

表3-1下行流量在理想信道环境下的核心测试案例

下行流量在非理想信道环境下的核心测试案例

表3-2下行流量在非理想信道环境下的核心测试案例

下行流量在理想信道环境下的核心测试案例

  总结

  从测试理论来看,测试不是追求100%覆盖,而是要根据特定的测试目的,寻找到一套有效的测试方法来保证产品的质量。 TD-LTE系统组网测试应该主要是针对实际应用的网络中最常规和最大量应用的场景进行测试。本文从理论上分析了物理层和MAC层对下行流量的主要影响因素和常用配置,提出了运营商组网测试中理想信道环境下和非理想信道环境下针对下行流量的核心测试案例,其中的系统配置可以根据运营商具体的网络应用需求作出调整。这些测试案例可以作为运营商TD-LTE网络入网测试时针对下行流量测试的主要测试案例。

  参考文献

[1] 3GPP TS 36.414, V8.4.0, S1 data transport [S]; 3GPP TS 36.300, V8.6.0, Overall description [S].
[2] 3GPP TS 36.212, V8.5.0, Multiplexing and channel coding [S]
[3] 3GPP TS 36.211, V8.6.0,Physical Channels and Modulation [S]
[4] 3GPP TS 36.213, V8.7.0,Physical layer procedure [S]
[5] M.A.Vouk, Using Reliability Models During Testing With Non-Operational Profiles

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编辑:小甘
本文引用地址: http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2010/0115/article_996.html
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