2010安捷伦测试测量大会将在成都举行

2010-01-15 11:39:18   作者:李伟   来源:中新四川网   

      据悉, 2010年安捷伦测试测量大会将于1月20日在成都香格里拉大酒店拉开帷幕。此次大会将涉及无线通信与数字测试、国防与航空航天科技两大领域的20多个专题。

  在此次会议中,来宾将亲临现场见证安捷伦科技70年的技术飞跃与烁世贡献:从“泛在网络”的全面测试方案,到3G-4G的无线测试大全;从高速数字技术的深入解析,到复杂电路的自动化设计程序;从航空航天的尖端测试设备,到国防科技的集中专题探讨;从DANL可逼近到-172dBm理论极限值的高端频谱分析仪,到基于PNA-X的非线性网络测试划时代的创新产品;从复杂电磁环境下的信号监测,到高速数字总线的测试方案。来宾有机会经历一次像遨游科技迷宫一样的高集成度、科技与测试专业课题的研讨大会。

  今年的安捷伦测试测量大会成都站为期两天,将特别引入多个分论坛,以侧重方向的不同区分每天的内容与用户进行更深入的探讨,设立更全面、更有针对性的现场展示环节,并邀请业界权威讲师,与安捷伦科技全球范围各应用领域内的资深技术专家、经验丰富的工程师共同为用户现场讲解与演讲。

  据介绍,2010安捷伦测试测量大会是该公司本年度在中国最大规模的研讨会,于1月份在成都开幕后,还计划在上海、北京、深圳等重点城市举办。

编辑:刘志青
本文引用地址: http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2010/0115/article_994.html
[发表评论]
[加入收藏]
[告诉好友]
[打印本页]
[关闭窗口]
[返回顶部]
[RSS订阅]

小广播

最热点击

专栏

向农,EEWORLD副总编。被英特尔董事长贝瑞特称为“中国可与之对话的两名记者之一”

【详细】

总编随笔
汤宏琳,人皆称为“汤汤”,电子工程世界高级编辑。随着EEWORLD一起成长。

【详细】

汤汤手记
今年,是中国集成电路产业丰收的一年,相比较往年都有大幅提升。

【详细】

凯哥博客

论坛精华

精选博文