首款专业级高速数据采集存储卡问世

2010-01-06 21:53:36来源: EEWORLD 关键字:高速数据采集存储卡  RunCore  NAND  Flash

  RunCore近日推出最新基于NAND Flash的高性能CPCIe\PXIe固态存储卡PXIe-SSD,它可显著提高PXI Express和基于CompactPCI Express自动化测试系统的数据存储速度。在各类采集、测试和测量应用中,工程师们都可以使用该款3U CPCIe\PXIe固态存储卡,并配合任何PXI Express机箱来创建紧凑的、高性能的基于PC的平台。凭借1GB/s总系统带宽,成为高级射频和无线测试应用、高吞吐量数据采集系统和其他需要密集分析、信号或图像处理等应用的理想选择。

  由于射频和无线应用的测试速度和测试系统控制器的计算性能紧密相关,RunCore PXIe-SSD可有效优化射频和无线测试应用。相比传统磁盘驱动器,PXIe-SSD可最高提升500%的存储性能,在RunCore标准的磐龙SSD的均衡损耗算法的基础上,通过板上Virtex4 FPGA和48片NAND Flash并行读写,实现了400MB/s的持续读写速度和最大768GB的容量。得益于在军工固态存储领域的技术积累,RunCore PXIe-SSD提供优异的的使用寿命和出色的高可靠性,满足MIL-STD-810F\GJB150\GJB322A-98等军标要求,可有效工作在振动、高低温等环境。

CPCIe

CPCIe

关键字:高速数据采集存储卡  RunCore  NAND  Flash

编辑:小甘 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2010/0106/article_923.html
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