开放式架构SiP测试方案提高良率

2010-01-05 21:39:28来源: EDN China

  随着国内诸如搭载CMMB等功能多媒体手机、MP4/5等移动手持消费类电子产品的快速发展,加入了无源器件、射频器件、MEMS、以及多个子系统高度集成的SiP产品技术发展迅猛,对IC设计、封装、以及测试都提出了新的要求和挑战。

   SiP测试最大的问题在于如何通过1PASS完成针对SoC、Memory、RF等不同功能的测试,来降低测试成本;以及在CP阶段对SiP的大量重要测试数据进行详细分析,提高测试良率。爱德万测试在今年10月的“ICCHINA”、11月的IC设计年会、以及12月的技术研讨会上,推出了一系列面向SiP测试的全新测试方案。搭载了支持数字测试、模拟测试、电源测试、射频测试、Memory测试、多时域测试等不同测试功能测试模块的开放式架构T2000测试系统,可以根据SiP的不同测试要求,整合及调配测试资源,将原先的NPASS测试流程升级为1PASS测试,优化了拥有不同测试功能的测试资源,大幅缩短了原来复杂流程的测试时间,实现了测试成本的大幅降低;同时T2000测试系统内嵌的如SCANFF,FAILBITMAP等EDA-LinkageGUI调试工具,使设计人员和测试工程人员对SiPCP测试阶段获得的大量、复杂的测试结果数据,能够直观、系统的进行分析,从而进一步实现了SiP测试的良率提高。

  爱德万测试的全新SiP测试方案,必将能助力国内的SiP产业更好更快得发展。

关键字:开放式架构  SiP  测试

编辑:小甘 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2010/0105/article_920.html
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