"对DDR参数和协议进行测量和调试的技巧"研讨会

2009-12-15 09:14:48来源: EEWORLD

  安捷伦科技公司将于12月22日上午10:00举办中文网上研讨会,题目为“利用混合信号示波器DDR参数协议进行测量调试的技巧”。

  DDR (Double Data Rate) DRAM由于性能和价格的优势,正日益广泛的应用于计算机平台以及各种嵌入式产品设计中。DDR规范从DDR1, DDR2发展到DDR3,并且也发展出主要应用于移动设备领域的LPDDR (低功耗DDR),用于图形卡的GDDR等。 随着总线速度的提高,信号完整性问题,互操作问题越来越被设计和测试人员关注。而由于DDR总线复杂度高,探测困难,测试和分析也有非常大挑战。 

  DDR存储器系统的调试和验证需要能提供全面的参数和协议测量的调试工具。安捷伦独特的工具和方法能够提供既经济又具备足够功能去验证DDR系统的解决方案。从DDR总线的物理层建模、仿真和测量,到协议层面到功能验证等方面,安捷伦提供了完整的解决方案,使用户更快捷更深入地分析和调试DDR总线,加快研发的速度,确保产品的性能。该在线研讨会将介绍如何利用最新高性价比的混合信号示波器作一站式的解决方案来进行参数和协议的测量。

  “在高端嵌入式设计中,内存部分很容易出错,DDR内存的设计验证一直是很多工程师关心的问题。”安捷伦科技高速数字测试验证亚太区市场经理杜吉伟说,“全球范围内唯一的DDR官方认证实验室AVL使用安捷伦的示波器设备,InfiniiScan功能及其BGA探头服务全球”。MSO9000A的推出将进一步简化大部分DDR的设计验证”。

关键字:安捷伦  DDR参数  协议  测量  调试

编辑:小甘 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2009/1215/article_883.html
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