层出不穷的信号发生器可有效节省测试时间

2009-11-04 21:14:00来源: 《Electronic Design》

  所有电子电路和电子设备都接收输入信号,然后将其处理成新的不同的输出信号。工程师在设计和测试电路及设备时会从哪里获得这些输入信号呢?一种可能是为某种特殊应用建立自己的信号源,但这并非必需。

  这是因为不管正在设计或等待测试的设备是何种类型,都可以用现成的信号发生器产生合适的输入信号。信号发生器就象是工作台上的示波器、万用表和电源一样普遍。不管是模拟还是数字类型的信号发生器,它们都能用来节省设计与测试时间,确保产品正常工作(图1)。

图1:基于昂贵多管脚MCU的多功能卡读卡器接口设计。

  图1:基于昂贵多管脚MCU的多功能卡读卡器接口设计。

  函数发生器

  基本的函数发生器可以产生频率从约0。2Hz到20MHz左右的正弦波、方波和三角波信号。一些发生器还能提供线性斜坡、正极性或负极性脉冲信号。这些发生器主要用于基本的音频、超声波频率和低频射频测试。脉冲输出是TTL/CMOS电平,而线性输出电压可达±20Vp-p左右。

  低成本发生器一般是用模拟电路实现的,可以产生连续的可变频率和输出电压。虽然一些低成本模拟函数发生器仍有市场,但目前的大多数函数发生器使用数字信号发生方法和频率合成技术。

  事实上,大部分工程师喜欢数字类型的函数发生器,它们常被称为任意函数发生器(AFG)或任意波形发生器(AWG),两者一般都统称为ARB(图2)。

图2:基于少管脚MCU的多功能卡读卡器接口设计的外接多工器和胶合逻辑。

  图2:基于少管脚MCU的多功能卡读卡器接口设计的外接多工器和胶合逻辑。

  AFG是两种发生器中较简单的一种,仅用于产生最常用的信号,如正弦波、三角波、锯齿波或方波。而AWG可以用来产生事实上任意类型的信号。大多数AFG采用直接数字合成技术和内含标准波形的波形存储器及DAC输出(参考www。electronicdesign。com网站编号为DrillDeeper19147的“DDS基础”一文)。

  输出信号以设定波形的一系列二进制样值存储在RAM或ROM中。这些数据输出到数模转换器(DAC)就能产生阶梯近似型的目标输出信号。一些AFG可以产生频率高达300MHz的正弦和其它波形。

  AFG在存储器中预存有全部标准波形,可以通过前面板控制进行选择。AWG也能产生标准波形,但用户可以向RAM中输入任意想要的波形,也可以用外部软件创建代表想要波形的二进制文件。

  频率合成器向RAM提供增量地址,然后由RAM向DAC提供波形样值。另外,可以用模拟的低通滤波器去除残留的数字杂讯。输出电平控制功能可以用来设定想要的信号幅度。

  一些函数发生器还能提供基本的调制类型,包括调幅(AM)、幅移键控(ASK)、开关键控(OOK)、调频(FM)、频移键控(FSK)、调相(PM)、相移键控(PSK)及一些数字调制类型。

  比如泰克的AWG5000。该设备使用了标准的N倍锁相环(PLL)合成器(图3),有两个输出通道,每个通道都可以设成单端或差分输出。其DAC采样率高达1。2Gsamples/s,可以产生最高频率达600MHz的输出波形。由于这个高频特性,AWG5000可以用于某些应用中的射频测试。

图3:基于带灵活I/O影像的MCU的多功能卡读卡器接口设计。

  图3:基于带灵活I/O影像的MCU的多功能卡读卡器接口设计。

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关键字:信号发生器  测试  AFG  VSG

编辑:小甘 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2009/1104/article_824.html
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