大尺寸LCD光学量测系统的建构及应用方案

2009-10-11 12:29:09来源: EDN China

  ◎量测/测试所面临之问题

  欲建构LCD光学量测系统来检验面板品质,将面临的问题有:

  1.建立一套量测系统可快速对面板上某一点之9点、13点、25点均齐度之Luminance(辉度)、CIE(色座标)、Chromaticity、VIEWANGLE、ContrastRatio、GrayScale/Gamma、ResponseTime、Flicker、Cross-talk和WarmUpTime进行量测。

  2.整合视觉影像定位,自动量测面板各点之CIE及L(cd/m2)的变化相关函数。

  3.符合真实控制者操作介面功能之人机介面。

  4.建立自动输出判别是否合乎标准作业程序。

  ◎应用方案

  LCD的光学特性在量测上须整合运动控制、影像自动定位、类比/数位讯号撷取、以及仪器通讯等复杂的项目,而市面上提供的软硬体环境必须具备亲切的使用者介面、开发时程短、易于安装与除错等特性。透过对市售产品的严格筛选与评比后,以美商国家仪器(NI)的提供的软硬体环境符合本公司的需求。特以LABVIEW7.1Express作为开发平台,软体环境搭配VisionAssistant7.1与ReportGenerationToolkit为主,在硬体环境上则使用NIUSB-6009、PCI-1407、PCI-6221。

  文章摘要

  有鉴于平面显示器的设计越来越迈向超大面板方向前进,光学量测设备的量测范围尺寸必定也需要朝向超大面板设计。光学特性的标准也不断提高,传统以人工检验品质的方式,不但耗费无谓的人工成本,且不论检测精密度及速度皆无法满足较大规模的生产要求。因此,先进的「电脑视觉定位系统」为不可或缺的,其具有测量准确、快速、扩展性强等特点,能快速针对客户需要的参数进行自动检测。基于仪控自动化技术发展理念,发展『产业自动化视觉检测系统』,配合VISIONANDMOTION的运用,依客制化需求开发以满足实际生产需求。由于LABVIEW它能够快速建立准确的自动检测系统,同时产生完整详细的检测数据,故以LABVIEW7.1搭配IMAQ7.1作为开发软体,建立完整的自动化量测系统。光学量测设备介绍本公司自制光学量测设备配合VISIONANDMOTION的运用,以LABVIEW7.1搭配IMAQ7.1作为开发软体建立完整的自动化量测系统。如下图一所示,仪器包括TOPCONBM-7(orSR-3)、XYZ直线轴加上θxθy旋转轴之五轴TABLE,控制型态为5轴伺服控制。

LCD光学量测系统

图一.LCD光学量测系统

  自动量测面板各点之变化相关函数之特性整合

  1.视觉影像定位方法(NIPCI-1407+watechighresolutionCCD)

  此光学量测系统在搭配『视觉影像定位方法』下,量测之项目可包含以下数种:均齐度量测、ResponseTime、WarmUpTime、Flicker、VIEWANGLE、ContrastRatio、GrayScale/Gamma、Cross-talk和Chromaticity等。此『视觉影像定位方法』之程序,首先必须输入LCD尺寸大小,利用影像处理方法(Findverticaledge、Findhorizontaledge、Findcoordsys(2Rects)),程式会先自动搜寻出LCD之未发亮边界,如图二、三所示。当搜寻出边界后,程式便可以自动对位至所需之定点,此定点分别定义为LCD之左上、右上及右下边界。根据前述定义之左上及右上两点,可决定LCD之水平夹角,并将LCD的座标系修正至与程式之座摽系一致,如图四所示。

视觉影像定位方法-自动搜寻LCD左上角

图二.视觉影像定位方法-自动搜寻LCD左上角

视觉影像定位方法-自动搜寻LCD右下角

图三.视觉影像定位方法-自动搜寻LCD右下角

视觉影像定位方法-自动修正LCD座标系

图四.视觉影像定位方法-自动修正LCD座标系

  2.9点、13点、25点均齐度

  在LCD的检测中,依据LCD发光区域辉度或色度变化的程度,可将其定义为均齐度(Uniformity)。根据VESA规范,均齐度之量测包含5点、9点…等,再由量测结果之最大值除以最小值便为均齐度,公式如下列所示:

均齐度

  在此LCD光学量测系统中依据不同需求包含9点、13点和25点均齐度之量测。其测定方式与数据结果如图五及图六所示。

九点均齐度-自动测定方法

图五.九点均齐度-自动测定方法

[1] [2] [3] [4]

关键字:LCD光学量测  测量  面板

编辑:小甘 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2009/1011/article_790.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
LCD光学量测
测量
面板

小广播

独家专题更多

TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved