罗德与施瓦茨-先进的射频微波测量技术

2009-08-12 11:33:53来源: EEWORLD

      罗德与施瓦茨公司(以下简称R&S)将参加2009年8月27日至29日在成都世纪城新国际会展中心举办的“中国(成都)电子展暨第十二届国际电子测试与测量专业研讨会”。R&S公司将在电子展现场展示主题为“ 罗德与施瓦茨-先进的射频微波测量技术“的相关仪器和解决方案,并做“R&S先进的混频器测量技术”为主题演讲,内容涉及R&S先进的混频器测量技术,矢量网络分析仪扩展单元ZVAX的应用,以及信号源综合分析的高端技术。

R&S先进的混频器测量技术

      全面展示R&S公司高级矢量网络分析仪ZVA(4端口)在混频器测试应用和具体测量方案。现场演示包括:混频器标量测试技术,混频器矢量测试技术,内置本振混频器群延时测量技术(R&S 专利)等应用。

矢量网络分析仪扩展单元ZVAX的应用

      ZVAX是为矢量网络分析仪ZVA系列而推出的应用扩展单元。提供脉冲宽度低至12.5 ns的脉冲S参数测量功能;谐波抑制80 dBc的谐波测量应用;三阶交调测量动态范围90 dB(内置合路器);最大测试功率43 dBm。

信号源综合分析的高端技术

      信号源分析仪R&S FSUP是相位噪声分析、信号分析与高端频谱分析的完美结合。现场展示利用R&S FSUP的各类相位噪声测量功能,剩余(叠加)相位噪声测试,AM噪声测试,VCO测试应用,矢量信号分析等各种测试与应用。

敬请光临R&S公司展台:成都世纪城新国际会展中心,C22,C23展位:

并聆听“R&S先进的混频器测量技术”主题演讲:

时间:2009年8月27日上午11:10-11:40

地点:成都世纪城新国际会展中心4-5连接馆2F(1号会议室)  

演讲内容:混频器标量测试技术,混频器矢量测试技术,内置本振混频器群延时测量技术(R&S 专利)等

关键字:R  S  射频  微波

编辑:冀凯 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2009/0812/article_715.html
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