NI 新版DIAdem软件有效提供高级数据管理功能

2009-07-06 23:19:00来源: EEWORLD

      美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)近日发布可交互式管理、分析、显示以及对测试数据生成报告的最新版软件工具——NI DIAdem 11.1,该版本软件针对高级开发和自动化分析应用增加了新特性和以及数据筛选功能。当前测试环境下,要求工程师们快速处理大量分散数据、生成报表以及进行数据显示,DIAdem就是设计用来满足这种需求并帮助工程师们快速做出决策。通过DIAdem, 工程师们可以更快地对采集或者仿真得到的数据进行管理、挖掘、分析并生成报告,这些将在科研、汽车和建筑测试等领域得到极大的应用。

      对于高级数据分析,DIAdem 11.1新增运算管理器和筛选功能,这大大有利于团队开发和自动化分析应用。而对于如汽车行业的高通道数应用来说,工程师们现在能够对DIAdem的数据进行筛选,更快地找到并访问内存中不同的通道数据。此外,工程师还可以通过运算管理器创建自定义算法,并在部门和团队中共享数据来提高工作效率,减少错误。

      对于高级数据管理,工程师们可以利用DIAdem挖掘、检查和分析测试数据来关联不同测试结果,从而挖掘出数据中包含的真正结果。DIAdem 11.1 新增了一个插件工具,它可以将CAN日志文件转换为技术数据管理(TDM)数据格式, 从而提高不同应用程序间数据的兼容性。同时,工程师们也可以完全自定义DIAdem界面,满足自己的应用需求,并可以充分利用新引入的三维等高线来更好地显示数据。

      除此之外,可与DIAdem协同工作的软件解决方案——NI DataFinder Server2.1,提供了用户安全管理并集成电子文档归档系统。NI DataFinder是一款非常实用的工具,它扩展了测试数据管理,使之延伸为开发团队和部门之间的数据共享,这有效降低了工作中的错误,并在提高了团队工作效率。相比旧版本软件,新版NI DataFinder Server 凭借改进增强的功能,帮助工程师们将索引和查询测试数据的时间提高近了近20倍。

关键字:DIAdem  NI  测量  数据管理

编辑:小甘 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2009/0706/article_687.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
DIAdem
NI
测量
数据管理

小广播

独家专题更多

富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved