使用非信令技术改进移动设备的射频测试 (3)

　　预定义的测试序列可减少数据通信

　　Rohde & Schwarz 的非信令模式测试时间分析表明：进一步提高个别射频测量的速度，未必会使测试时间明显缩短。许多无线通信测试仪已经达到了很高的测量速度，如在测量 GSM 信号时已经达到实时测试的速度，因此它们能轻松地对逐个 GSM 帧的单个时隙进行调制分析。因此，数据传输的最大改进潜力是在生产测试系统本身内部。

　　目前，最常用的测试理念是每次执行单个测量。系统控制器单独请求每次测量，即 DUT 和测试仪在每个测试步骤都重新初始化（图 3）。在每次测量结束时，获得的结果均从测试仪返回系统控制器。

　　由于生产系统必须不仅能处理测量本身，还能处理测试夹具驱动等多种任务，因此它们的控制软件包含多层，必须自上而下横贯各层，并重复每个测试步骤。这是一个造成瓶颈的耗时的过程。

　　为了缩短该周期，具备非信令模式的移动通信测试仪用预定义的测试序列来代替单个测量。首先，在一次操作中把包含所有待执行测试的完整序列从系统控制器传输到 DUT 和测试仪。在收到启动触发之后，DUT 和测试仪同时处理该序列。DUT 激活待测量信号，而测试仪则同步启动适当的测量。结果被存于瞬时存储器。在序列结束时，包含所有结果的列表被传输至系统控制器。

　　因此，软件层结构只须横贯两次：一次是自上而下用于初始化，然后重复一次以便传输结果列表。该方法可以将非信令模式的测试时间进一步缩短 50%。

　　过去，芯片组和无线设备制造商重点是定制各自解决方案来满足最终客户的要求。更高的数据速率、更好的易操作性、更小的尺寸等新功能应该会提供更有吸引力的解决方案。

为了实现非信令生产理念必须使用的测试模式，芯片设计者的设备必须具备特殊测试模式。对于 GSM 和 WCDMA 等成熟技术，完成这项任务应该不会有任何问题。额外的开发工作会很快获得回报。

　　然而，LTE 等新技术代表了一个值得注意的挑战。为了确保在推广阶段能按时向客户提供稳定好用的解决方案，制造商们使用了某种生产测试设置，该设置尽可能精确地匹配了设备日后在真实网络中的工作方式。结果，信令概念被用于新的产品设计。因此，采用非信令技术的测量设备必须能在必要时适应信令测试。

　　无线设备生产过程的测试时间有望被缩短至十分之一。为了实现这个改进，芯片组制造商必须集成所需的测试模式，而生产线必须采用具有非信令模式和预定义测试序列的测试仪。