数字测试仪下的参数测试单元的设计

2009-05-31 14:07:55来源: 今日电子

      随着电子技术的迅速发展,数字集成电路得到了广泛的应用,数字芯片已经渗透到各个生产、生活的领域。与之相对应的,各个领域对数字芯片的性能、稳定性、可靠性也有了更高的要求。数字测试仪作为测试芯片性能最主要的技术正是在这样的环境下迅速发展起来。

      整个数字测试仪通常包含了五大部件:电源模块、通信模块、参数测量单元、数字测量单元和主控制模块。其中,参数测量单元和数字测量单元是整个数字测量仪的核心部件,参数测量单元直接决定着整个系统测试仪的模拟参数测量精度和应用范围。因此,设计出具备高精度、高速度的参数测量单元的数字测试仪具有很高挑战性。

      本文提出了一种高速度高精度的参数测量单元。该单元应用于数字测试仪,具备16通道选通测试能力和可编程指令集,同时自带的PID循环验证和Kelvin四线连接技术可以有效提高整个模拟参数测量精度,使测量仪在低于50Ω的负载情况下仍能维持不超过千分之一的测试误差。

      数字测试仪框架

      数字测试仪框架如图1所示,采用Cyclone系列的FPGA作为主控制芯片。该芯片能够有效控制各种高速并行D/A、A/D进行测试;同时对大量的通道选通继电器、存储器阵列、数字信号采集芯片等进行准确控制。由图1可以看出,测试仪的模块很多,但需要指出的是模拟参数单元占到了整个面积和成本的三分之一以上,这也显示了参数测量单元的重要性。

图1 数字测试仪架构图

[1] [2] [3] [4] [5]

关键字:数字测试  参数测试单元

编辑:小甘 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2009/0531/article_646.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
数字测试
参数测试单元

小广播

独家专题更多

富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved