高速FPGA系统的信号完整性测试和分析

2009-05-26 16:17:41来源: 泰克科技(中国)有限公司

      1. 引言

      随着FPGA的设计速度和容量的明显增长,当前流行的FPGA芯片都提供高速总线,例如DDR内存总线,PCI-X总线、SPI总线;针对超高速的数据传输,FPGA通过集成SerDes提供高速串行IO,支持各种诸如PCI-E、GBE、XAUI等高速串行总线协议,为各种不同标准的高速传输提供极大的灵活性。典型的高速FPGA器件提供的每一条物理链路的速度从200Mbps到高达10Gbps,高速IO的测试和验证更成为传统专注于FPGA内部逻辑设计的设计人员面临的巨大挑战。这些挑战使设计人员非常容易会把绝大部分设计周期时间放在调试和检验设计上。
    
      为了加速对于FPGA中高速并行和串行总线的调试和验证,它需要使用新的高速信号完整性测试工具和分析方法。本文根据当前FPGA的高速总线测试和分析,提供了最新的方法和工具。
    
      图1是一个典型FPGA的提供的各种高速接口。对于这些速度从200M到高达10G的高速总线,信号完整性的测试和分析是保证设计成功的基础和关键。
 



图1 典型FPGA的提供的各种高速接口

[1] [2] [3] [4] [5] [6] [7] [8]

关键字:FPGA  高速串行信号  信号完整性  抖动  眼图测试

编辑:小甘 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2009/0526/article_639.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
FPGA
高速串行信号
信号完整性
抖动
眼图测试

小广播

独家专题更多

TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved