3G LTE测试挑战及测试方案 (2)

2009-04-27 17:55:17   来源:Aeroflex公司   

关键字:LTE TD LTE 3G



      Aeroflex 7100不仅实现了RF测试,还在同一台仪表中支持协议和切换测试。

      幸运的是,对开发TD LTE的工程师来说,规范中已经非常小心的把TDD和FDD之间的差异最小化了,而且有限的不同点主要集中在L1(第一层)。当然,这并不意味着TD LTE没有挑战,比如,测试上下行链路时隙分配的组合就非常复杂。在TDD模式下,为保证上下行链路的相互独立,时间同步非常关键,特别是在极端恶化环境下进行的重点测试。

      第一代TDD设备会使用频段38(2.6G)和40(2.4G),这是GCF确定的TDD设备进行认证的频段。这些频段正好在Wi-Fi频段的边缘,我们很关心这是否会造成在无线接入上的问题,所以在这些频段上TDD系统的性能还有待观察。另外一项测试也对测试设备提出了更高要求,即在单UE工作正常的情况下,如何测试eNodeB连接了多个UE情况下的性能。

      Aeroflex公司提供一系列测试方案来解决这些挑战。从最早的研发阶段到最终的交付使用,Aeroflex在基站系统和终端上都积累了广泛的测试经验。

      对于LTE基站系统的测试,Aeroflex早在2007年11月份就开发出了TM500 FDD测试终端并交付用户,并于2008年推出了TDD版本。TM500在WCDMA/HSPA时代就被系统厂商所广泛认可。在LTE时代,TM500继续为系统厂商所广泛使用,来加速基站系统的研发。接下来,新版本的TM500马上会推出多UE测试平台,来验证基站系统在连接多UE情况下的性能。

      对于终端测试,新的Aeroflex 7100不仅实现了RF的测试,还在同一台仪表中支持协议和切换的测试,这使用户大大节约了投资。7100给开发基带、射频和协议的工程师提供了非常灵活的测试平台,它不仅可以模拟不同的场景和测试条件,还提供了丰富的故障诊断和分析功能(图)。

      尽管3GPP LTE的标准现在已经冻结,但它的稳定性还有待检验。任何重要的修改都可能需要重新撰写,并对新的芯片设计产生很大影响。Aeroflex的测试仪表被设计成能够简单升级以适应3GPP标准的反复修改,因此对它的投资价值在LTE整个生命周期中都能体现出来。

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编辑:小甘
本文引用地址: http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2009/0427/article_605.html
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