利用VNA分析高速线上的串扰

2009-04-27 17:29:48来源: Anritsu公司

      差分电路可以有效地去除高频、高速设计中的共模噪声。差分器件和传输线不仅常被用于高速数字总线设计,而且也被用于包括手机在内的许多射频和微波产品中。与测试传统的单端器件相比,测试差分器件和传输线需要更多的测试端口。Anritsu(安立)公司的12端口矢量网络分析仪(VNA)能够对工作在40~65GHz频率范围内的单端信号、混合模式和差分器件进行散射参数(S参数)测试,非常适合高速器件和系统的信号完整性(SI)测量。

      Anritsu的12端口65GHz系统由一个型号为37397D的双端口VNA系统、一个外部测试装置以及多个安置方便的端口模块组成。这种移动测试端口可以紧靠任何形状的被测设备(DUT)放置,从而使得该测量系统与晶圆探测系统一起使用时能发挥强大功能。适用于4、8和12端口应用的测试系统校准功能得到了PAF公司的一款灵活的校准和测量软件的支持。这个功能强大的软件可以帮助操作人员应对最困难的多端口测试,包括晶圆级测量。针对具有144个S参数的复杂测量,这个12端口VNA系统和软件支持一个精确的78项错误模型,带有至少有17条连接。

      VNA传统上常被用来对单端50Ω元器件进行S参数测量,但随着数字通信系统和总线速度、频率的提高,多端口混合模式S参数已经成为分析高速数字信号线、总线和器件信号完整性(SI)的有效工具。例如,VNA可以直接测量高速通道上的串扰。虽然高速背板中设计的通道相互之间是独立的,但它们经常受到高速/高频信号通道之间串扰的影响。对于USB3.0或第3代PCI Express等速度已经超过10Gbps的数字通信标准来说,12端口65GHz VNA测试系统可以在全速状态下提供有意义的信号完整性测量,能为多通道同时测量提供必需的测量端口。

      除了高速背板,越来越多的无线元器件和设备也采用差分(平衡的)架构来减少电磁干扰(EMI)的影响。虽然4端口VNA系统可被用来测量单个差分通道或器件,但更复杂的元器件需要更多数量的测量端口。事实上,对高速传输线进行单端测量可能产生性能降低的错误结果,因为这些传输线是针对差分信号来设计的。

      对高速背板而言,相邻差分通道间的串扰会降低其性能。在一对差分通道中,产生串扰的那个通道被称为干扰通道(干扰线),而耦合而受到串扰影响的相邻通道被称为被干扰通道(被干扰线)。为用VNA系统分析两个差分通道的串扰,干扰线需要4个测试端口,被干扰线需要4个测试端口。当然,在多通道通信系统或多组差分线中,一对相邻线实际上与周边其它线并非隔离。因此,分析两个相邻干扰线在被干扰线上造成的串扰通常更有实际意义。因为每根线需要4个测试端口,所以共需要12个测试端口。

[1] [2] [3] [4]

关键字:VNA  串扰  矢量网络分析仪  信号完整性

编辑:小甘 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2009/0427/article_604.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
VNA
串扰
矢量网络分析仪
信号完整性

小广播

独家专题更多

TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved