泰克高速串行技术上海测试测量方案中心开幕

2009-01-14 10:17:12来源: 电子工程世界 关键字:高速  技术  方案  中心

      全球领先的测试、测量和监测仪器提供商--泰克公司日前宣布,其在上海最新成立的测试测量方案中心正式开幕。中心将向客户演示泰克为最先进高速串行数据技术提供的各种尖端测试解决方案。泰克技术专家将提供现场技术支持,讨论实际应用案例,为客户提供具有针对性的高速串行测试实用指导。上海测试测量方案中心是除美国加利福尼亚州圣克拉拉、日本东京和中国台北的中心以外,泰克最新成立的又一家解决方案中心。

      上海测试测量方案中心配备了最新的示波器信号源逻辑分析仪、探头和相关应用软件,将展示面向高速串行技术的分析、验证和一致性测试综合解决方案,如HDMI、DisplayPort、SATA、PCI Express、DDR、USB和以太网

      “当前的设计工程师们每天都面临着技术的快速革新以及复杂度的不断提高。”泰克公司亚太区市场总监James Alderton说,“上海测试测量方案中心的成立,将使中国的设计工程师们能够利用泰克在标准机构中发挥的作用以及泰克公司最新的测试解决方案,缩短串行数据设计周期,进而加快产品开发速度,降低整体产品开发成本。”

关键字:高速  技术  方案  中心

编辑:潘争 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2009/0114/article_444.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。

上一篇:泰克为串行数据链路分析提供更多解决方案
下一篇:泰克推出世界上速度最快的示波器系统

关注eeworld公众号 快捷获取更多信息
关注eeworld公众号
快捷获取更多信息
关注eeworld服务号 享受更多官方福利
关注eeworld服务号
享受更多官方福利
推荐阅读
全部
高速
技术
方案
中心

小广播

独家专题更多

迎接创新的黄金时代 无创想,不奇迹
迎接创新的黄金时代 无创想,不奇迹
​TE工程师帮助将不可能变成可能,通过技术突破,使世界更加清洁、安全和美好。
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2017 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved