泰克面向高速串行测试推出多款应用新品

2008-08-14 12:09:48来源: 互联网

    PCI-Express、RapidIO、HDMI和SATA等串行数据总线架构已经广泛应用于数字环境中,元器件间或内部传输的数据速率已达3Gbps、6Gbps甚至12Gbps。在通过电路板、背板和电缆传送时,高速串行数据信号将发生高频损耗,为此,高速串行设计中,需对整个系统进行测试,包括发射机、接收机及传输路径(或电缆)等。高速串行测试具体包括:属于事务层与数据链路层的系统集成与数据链路分析,及属于物理层的信号完整性测试、接收机测试与一致性测试等环节。日前,泰克针对物理层高速串行测试的各个环节,推出了相应的解决方案,帮助客户完成高速串行设计。

20 GHz带宽高速探头

    P7520探头提供了20 GHz带宽,允许客户调试和验证10 Gbit/s信号的第三个谐波,在8 Gbit/s的信号上,直到第五谐波执行一致性测试,包括PCI-Express 3、SATA Gen-3和HDMI 1.3。相对于16GHz探头,使用20 GHz探头捕获的8 Gbit/s信号,图像清晰,显著降低了失真。

    P7500系列探头提供TriMode三模测量功能,使用一条探头连接可同时实现单端、差分与共模三种测量方式,实现更高效率和简便易用性。为便于连接,P7520采用流线化探头机身,因此多只探头可以放到有限的空间中。可互换的探头尖端模块提供了微型焊接尖端和可互换扩展电缆辅助装置,可以到达探测困难的区域,针头手持式探头模块则可以用于夹具式应用和手持式应用。

“全内置”串行数据接收机测试解决方案

    泰克推出SerialXpress高级软件,新软件为高速串行数据接收机测试直接合成波形,适合测试SATA、SAS、PCI-Express、HDMI和DisplayPort串行数据标准及工作速率在6 Gbps以下的串行总线技术。SerialXpress管理波形的创建工作,并在AWG7000系列任意波形发生器上高速传送波形。SerialXpress软件提供的简便易用的界面提高了高速串行波形的创建和管理的直观程度。而装有SerialXpress软件的AWG7000则是构成用于接收机极限测试和BER测试的全内置高速串行数据信号发生器,令用户无需使用多台仪器和复杂的测试配置即可完成测试。

全自动SATA一致性测试解决方案

    标准一致性测试是设计人员面临的一大挑战,最新标准要求同时控制多台仪器和被测设备,生产效率的市场压力与要求的复杂测量数量迅速增长。SATA Gen-2中要求进行多达150项测试,这意味着自动化和重复测量成为必然。而随着标准的不断更新,设计人员必须能迅速简便地增加和修改测试程序和参数。此外,还需要进行多次的测试,把多台仪器的测试和结果结合起来。按照当前传统方案,执行标准一致性测试可能需要几天的时间,而对于半导体厂商而言,时间就是生命。

    为此,泰克推出TekExpress一致性自动测试平台和新的TekExpress SATA自动一致性测试软件。TekExpress SATA在TekExpress平台上运行,利用经过认证的泰克串行数据高性能仪器套件对接收机、发射机和互连进行全自动的SATA Gen-1和SATA Gen-2一致性测试。

    TekExpress SATA使用运行Windows XP的计算机就可进行控制,可以有效执行SATA-IO工作组认证的实现方法(MOI)要求的153项SATA Gen-2测试。TekExpress SATA软件协调仪器设置和控制序列,为全部4个SATA-IO批准的实现方法(MOI)提供完整的认证测试结果,所需总测试时间不到3小时,使一致性测试时间降低了约70%,节约了SATA设计验证时间。

     对于泰克而言,TekExpress SATA的意义不仅是首个全自动SATA一致性测试解决方案。借助TekExpress SATA,泰克提出全新的TekExpress测试自动化架构,包括示波器、信号发生器、第三方集成RF开关、电缆及偏移校正等在内的完整解决方案。泰克期望,未来能将该架构应用到高速串行数据各类标准的一致性测试中,以统一的框架体系应对测试挑战。


 

关键字:TekExpress  SATA  测试解决方案

编辑:潘争 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2008/0814/article_274.html
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