使用Xilinx的Spartan-6 FPGA作DDR芯片测试

2011-10-17 16:12:19来源: 电子产品世界 关键字:DDR  测试
    目前广泛使用的计算机内存芯片是DDR(双倍数据率同步动态随机存储器)[1]。它的最新品种DDR3单片容量已经可以达到2Gb以上,数据率可以达到1.6Gb/s以上[2],因此如何快速准确判定DDR芯片的好坏(功能测试)就很必要。

    由于DDR这类芯片的设置和读写时序相当复杂,要在其性能所达到的高速条件下对其进行测试,许多人选用的技术方法是:直接把它们放到计算机的内存专用插座上,编一个相应的程序去进行测试。这不失为一种最简单的选择。但由于在测试过程中,计算机读取相应的指令还要花费不少时间,所以在芯片容量越来越大的情况下,这并不是一个好方法。

    使用FPGA,将测试软件变成硬件,做成DDR专用测试工具,是提高测试效率的较好的选择。一开始设计的DDR专用测试工具是使用Xilinx公司的Spartan-3E来实现的,但是很快发现:无论如何进行设计约束,诸多的地址信号、控制信号和数据信号很难做到同步送出,信号时延的离散范围很难达到0.2ns以下。对于数据率在200Mb/s以下的早期DDR产品,这勉强可以接受。但目前DDR2的数据率已经可以高达800Mb/s,也就是说,按相位角算,离散范围已达60°。为了保证上述有关信号的同步,不得不在FPGA与DDR相连接的所有信号线之间,增加了用CPLD器件做成的同步接口,利用CPLD器件端口到端口具有一致的延时特性来保证所有信号时间上的一致性

    对于Xilinx公司的Spartan-6系列[3],由于它有专为各类DDR内存设计的存储器控制模块(MCB),用户可以利用提供的存储器控制模块,直接驱动DDR芯片,大大方便了与DDR的接口。

    在我们新的DDR专用测试工具“DDR存储芯片测试仪”中,使用Spartan-6系列的XC6SLX16芯片,按照该公司的ug416.pdf文件[4]的指引,用CORE Generator软件中的MIG3.4分别产生了DDR2和DDR3两种类型的应用文件,包括DDR的基层MCB控制模块的应用文件,和它们的高层次使用举例文件example_top。后者本身就是一个DDR的测试程序,它向你显示如何实现与基层MCB控制模块接口。我们在它的基础上增加了一些测试模式,并增加了测试设置寄存器和测试结果状态寄存器,用一个宏晶公司的STC12C5408单片机作为整个DDR芯片测试设备的管理器,经串行口与主机通信,很顺利地实现了对DDR2、DDR3芯片的测试。

关键字:DDR  测试

编辑:北极风 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/FPGA/2011/1017/article_2609.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。

上一篇:基于FPGA的身份认证智能卡设计
下一篇:FPGA与GPS_OEM板的UART设计

关注eeworld公众号 快捷获取更多信息
关注eeworld公众号
快捷获取更多信息
关注eeworld服务号 享受更多官方福利
关注eeworld服务号
享受更多官方福利
推荐阅读
全部
DDR
测试

小广播

独家专题更多

东芝在线展会——芯科技智社会创未来
东芝在线展会——芯科技智社会创未来
2017东芝PCIM在线展会
2017东芝PCIM在线展会
TI车载信息娱乐系统的音视频解决方案
TI车载信息娱乐系统的音视频解决方案
汇总了TI汽车信息娱乐系统方案、优质音频解决方案、汽车娱乐系统和仪表盘参考设计相关的文档、视频等资源

夏宇闻老师专栏

你问我答FPGA设计

北京航空航天大学教授,国内最早从事复杂数字逻辑和嵌入式系统设计的专家。

电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2017 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved